Mobiel oppervlaktemeetinstrument met een elegant ontwerp
HANDYSURF +
Eenvoudige kwaliteitsbewaking tijdens het hele productieproces
De eenvoudige oplossing om oppervlakteruwheid te meten, te evalueren en te documenteren – tijdens het hele proces van binnenkomende goederen naar productie tot eindinspectie.
HANDYSURF+
Mobiel oppervlaktemeetinstrumentMet een strakker ontwerp, nieuw 2.4-inch LCD-kleurenscherm en een verbeterde gebruikersinterface voor intuïtieve bediening maakt de HANDYSURF+ eenvoudige kwaliteitsbewaking mogelijk voor het meten van oppervlakteparameters tijdens het hele productieproces. Het is een ideale oplossing voor de mechanische, automobiel- en medische sector.
Flexibel gebruik
HANDYSURF+ is een flexibel en robuust meetinstrument voor horizontale en verticale metingen en metingen boven het hoofd, dat eenvoudig naar het werkstuk kan worden gebracht.
Gebruiksvriendelijkheid
HANDYSURF+ voldoet aan alle algemene oppervlaktestandaarden (ISO, DIN, CNOMO, ASME en JIS), ondersteunt 20 talen en kan worden verbonden met een PC, printer of USB-stick via een ingebouwde USB.
Groter meetbereik
HANDYSURF+ heeft een meetbereik van 370 µm – de breedste in zijn klasse – zonder dat dit ten koste gaat van zijn resolutie van 0,0007 µm.
Verbeterde analyse
HANDYSURF+ biedt grafische weergaven van metingen met parameters en golfvorm voor verificatie ter plaatse en kan verscheidene analyses uitvoeren, zoals BAC, ADC, het aantal pieken (RPc) en motieven.
Voordelen
- Gebruiksvriendelijk, mobiel en flexibel voor metingen, analyses en documentatie
- Compact ontwerp
- Werk snel dankzij de automatische functie voor meetbereik, totale padlengte, cut-off en vergroting
- Kan worden verbonden met elke ZEISS 3D-meetmachine via een ZEISS CALYPSO-interface
- Oppervlakteanalyses in overeenstemming met alle algemene standaarden: ISO, DIN, CNOMO, ASME en JIS
- De interface kan worden verbonden met een aparte analysecomputer
- Meet in verschillende posities: horizontaal, verticaal en boven het hoofd
- Optionele driver voor horizontale tracering om in de axiale richting te meten in krappe ruimtes
- Resolutie: tot 10 nanometer
- Uitgebreide accessoires (printer, kolommen, extensies, kabels, printpapier)
Technische gegevens en specificaties
- Verkrijgbaar in drie modellen: 35, 40 en 45, met styluspuntradiussen van 2 of 5 µm (model 45 is alleen verkrijgbaar met een styluspuntradius van 5 µm)
- Z-meetbereik: -210 tot +160 µm
- Z-meetresolutie: 0,0007 µm
- Materiaal styluspunt: diamant