CT-meetdiensten van ZEISS
Niet-destructieve en nauwkeurige inspectie van uw onderdelen
De tijd voor de fabricage van nieuwe onderdelen wordt in alle sectoren steeds korter, waardoor fabrikanten onder steeds grotere druk komen te staan. Ondanks de tijdsdruk en de steeds complexere onderdelen, mogen de kwaliteits- en functiecontrole tijdens de produktontwikkeling natuurlijk niet worden verwaarloosd. Op dit vlak levert met name de inspectie van inwendige structuren problemen op, omdat voor nauwkeurige metingen tot voor kort destructief testen van onderdelen nodig was.
Het gebruik van computertomografie in de industriële metrologie heeft hierin echter verandering gebracht. Dankzij deze technologie kunnen werkstukken niet-destructief en volledig worden gemeten voordat ze worden geanalyseerd en gecorrigeerd. Industriële computertomografie is een totaaloplossing voor de nauwkeurige analyse en meting van uw onderdelen.
Kunt u momenteel geen CT-inspectie in uw bedrijf uitvoeren? Vertrouw dan op de CT-meetdiensten van ZEISS! Wij hebben vele jaren ervaring op het gebied van industriële computertomografie met gegevensverzameling en -evaluatie. De hardware en software van onze CT-systemen zijn altijd ultramodern en onze ervaren CT-experts staan garant voor snelle CT-metingen. Kies voor een geavanceerde kwaliteitscontrole en laat de inspectie van uw onderdelen aan ons over.
- Zekerheid: meet, analyseer en inspecteer defecten en structuren in werkstukken met slechts één belichting.
- Niet-destructief: dankzij CT- en röntgentechnologie zijn metingen mogelijk zonder de onderdelen te beschadigen.
- Reproductie: digitalisering via computertomografie maakt de reproductie van onderdelen mogelijk, zelfs zonder CAD-model.
Onze CT-meetdiensten
CT-metingen in een oogopslag
In de wereld van fabricage en productie zijn dagelijks snelle oplossingen vereist voor problemen zoals materiaaldefecten, bijzonder gecompliceerde onderdelen of verborgen geometrieën. De inspectie van werkstukken door snijden of gieten om zo de inwendige structuren te analyseren, brengt echter een extra tijd- en kostenfactor in de dagelijkse bedrijfsvoering met zich mee. Dit alles kan worden vermeden door zeer flexibele CT-meetdiensten die zijn afgestemd op uw individuele behoeften. Industriële computertomografie is al jaren in staat om op een tijdbesparende en kostenefficiënte manier gegevens van diverse onderdelen en werkstukken te verzamelen en te evalueren.
Met de meetdiensten van ZEISS kunnen onderdelen worden gescand op ongelijke wanddiktes, defecten als scheuren, spuitgaten of poriën en andere gebreken. CT-metingen vormen een uiterst nauwkeurig inspectie-element binnen de industriële metrologie, waarbij u kunt vertrouwen op onze jarenlange expertise in metrologie en computertomografie. Wij bieden u diverse CT-meetdiensten in overeenstemming met DIN ISO 17035-gecertificeerde testprocedures. Hierdoor bent u niet alleen verzekerd van nauwkeurige CT- en röntgenmetingen, maar ook van een internationale navolgbaarheid en erkenning van de tests. Zo vermijdt u de noodzaak van meerdere testprocedures en bespaart u kosten op de kwaliteitscontrole.
Meetsysteemanalyse en geometrievergelijking
Met behulp van computertomografie kan het gehele onderdeel worden gescand, inclusief interne contouren en ondersnijdingen. Dit maakt niet alleen de metrologische analyse van uiterlijke kenmerken mogelijk, maar ook de nauwkeurige meting van inwendige structuren voor een snelle controle van de dimensionale nauwkeurigheid met slechts één scan. Daarnaast is het mogelijk werkstukken te meten die uit meerdere materialen zijn vervaardigd. CT-meting maakt ook een nauwkeurige nominale/actuele vergelijking mogelijk, aangezien het CT-beeld van de onderdelen rechtstreeks kan worden vergeleken met het bestaande CAD-model of het referentiewerkstuk. Dit levert een aanzienlijke tijdsbesparing bij de kwaliteitscontrole op.
![Afgebeeld is het beeld van een werkstuk met de softwaresuite GOM Inspect]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/ct-measurement-analysis-geometry-comparisons.ts-1621325103927.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=21e2d7af8e92d067096ee92b93fb4559","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/ct-measurement-analysis-geometry-comparisons.ts-1621325103927.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=e10ab10e244137e124be836f69e66a7f","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/ct-measurement-analysis-geometry-comparisons.ts-1621325103927.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=50b8dbf9284e71e9daa945effcb4265f","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/ct-measurement-analysis-geometry-comparisons.ts-1621325103927.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=df4e40ba4280a12affc36c2f27e7e1ca"} "Meetanalyse en geometrievergelijkingen")
Een overzicht van onze diensten:
- Meting van standaardgeometrieën, vorm- en positietoleranties en geometrische productspecificaties
- Nominale/actuele geometrievergelijking met een kleurgecodeerde 3D-visualisatie van de afwijkingen
- Eerste inspectie en contractmeting van uw onderdelen
- Analyse van de wanddikte met behulp van een kleurgecodeerde weergave van de dikte van wanden, zelfs voor inwendige structuren
Niet-destructief foutenonderzoek binnenin het onderdeel
Met behulp van CT-metingen maakt u op eenvoudige en niet-destructieve wijze defecten in onderdelen zichtbaar die uit verschillende materialen bestaan, zoals kunststof of licht metaal. Na de CT-meting wordt elk werkstuk als een volledige gegevensset weergegeven, waardoor u het tijdens de materiaaltest kunt controleren op defecten als spuitgaten, scheuren, poriën of insluitingen.
Met onze CT-metingen profiteert u van:
- Analyse van de poreusheid/opname van werkstukken
- Schade- en foutenanalyse van complete assemblages (P202-/P201-analyse)
- Controle van de assemblage van reeds geplaatste onderdelen
- Slijtage-inspectie
- Niet-destructief testen van onderdelen
Bekijk de video om de mogelijkheden te ontdekken die computertomografie u kan bieden. Wij bieden passende contractmetingen aan.
Reverse engineering met CT-metingen: corrigeren, optimaliseren, vastleggen
Bij elke CT-meting wordt een digitale registratie van de volledige interne en externe structuur van een onderdeel gemaakt. Dit zorgt niet alleen voor een snelle kwaliteitscontrole, maar maakt ook de reverse engineering van uw onderdelen en werkstukken mogelijk. Zelfs als er geen CAD-model meer beschikbaar is, kunt u nog steeds de ontwerpgegevens van een afgewerkt onderdeel achterhalen. CT-meting is ook geschikt voor gerichte correcties. Zo kunt u bekende afwijkingen van een referentieonderdeel of oorspronkelijk CAD-model gebruiken om gecorrigeerde CAD-gegevens samen te stellen die aan uw specificaties en problemen tegemoetkomen. Met reverse engineering wordt niet alleen oppervlaktereconstructie, maar ook een aangepaste gereedschapscorrectie mogelijk gemaakt.
2D-röntgeninspectie
Kwaliteitscontrole aan de productielijn is tijdrovend en foutgevoelig. Snelle en geautomatiseerde 2D-inspectie bespaart echter kostbare tijd en zorgt dat defecten en onjuiste ontwerpen snel worden opgespoord. Met onze röntgendiensten wordt de detectie en inspectie van diverse onderdelen in verschillende afmetingen probleemloos uitgevoerd. Industriële röntgenmicroscopie met hoge resolutie maakt ook een nauwkeurige opsporing van defecten mogelijk.
Een overzicht van onze röntgendiensten:
- Snelle en geautomatiseerde 2D-inspectie van onderdelen en werkstukken
- Niet-destructief onderzoek, direct aan de productielijn
- Röntgenbeelden van werkstukken in verschillende soorten en maten
![Afgebeeld is de 2D-röntgenbeeld van een werkstuk.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/bosello/zeiss-bosello-software.ts-1583307268652.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=00fb7a6a9eeb5792bf9b70f6a572b930","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/bosello/zeiss-bosello-software.ts-1583307268652.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=de3824a5275125099d3845bfd869ee21","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/bosello/zeiss-bosello-software.ts-1583307268652.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=6083222bfe75ef67ef5f1541be247897","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/bosello/zeiss-bosello-software.ts-1583307268652.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=79906e182e55bde7d1f99221ce0a5083"} "2D-röntgeninspectie in productie")
![ZEISS metrologietechnicus die de CT-meting van een werkstuk verricht]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-metrology-technician-working-on-the-ct-measurement-of-a-workpiece.ts-1622531673041.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=f796e587c24b4a212d036b013ad88fca","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-metrology-technician-working-on-the-ct-measurement-of-a-workpiece.ts-1622531673041.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=c55c40689f0428ae0d2282ea15d2f255","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-metrology-technician-working-on-the-ct-measurement-of-a-workpiece.ts-1622531673041.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=87db4e1a12b877246f108c44f21884dc","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-metrology-technician-working-on-the-ct-measurement-of-a-workpiece.ts-1622531673041.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=7d980454edc574c657339d78b68cf736"})
Nauwkeurig, snel en van hoge kwaliteit: vertrouw op de CT-meetdiensten van ZEISS
Slechts één defect in een onderdeel kan al tot een terugroeping van het product en hoge kosten leiden. Vertrouw op nauwkeurig geïnspecteerde onderdelen en een naadloze kwaliteitscontrole met de CT-meetdiensten van ZEISS. Als fabrikant en dienstverlener met jarenlange expertise op het gebied van industriële metrologie, weten we wat uw dagelijkse uitdagingen en problemen zijn. Daarnaast zijn we ons bewust van de voortdurend toenemende kwaliteitseisen in de sector. Daarom garanderen wij dat u na 3 werkdagen kunt beschikken over de resultaten van de CT-meting, maar vaak al op de dag van levering. Op die manier verliest u zo min mogelijk kostbare tijd en vermindert u de kosten die voortvloeien uit het oplossen van problemen. Zelfs bij de snelste metingen kunnen onze klanten uiteraard rekenen op de hoogste kwaliteit volgens de beproefde standaard van ZEISS.
Geen metrologische vereiste is ons te hoog: we garanderen u niet alleen snelle en nauwkeurige resultaten, maar ook CT-metingen van bijzonder complexe onderdelen. AMMAR is ontwikkeld door ZEISS en geïntegreerd in METROTOM OS. Met deze add-on kunnen zelfs lastige onderdelen die uit meerdere materialen bestaan, zoals kunststof verbindingsstukken met metalen inzetstukken, niet-destructief worden gecontroleerd en gemeten met computertomografie. Kies voor geavanceerde kwaliteitscontroles en materiaaltests, en leer uw onderdelen beter kennen dan ooit tevoren met behulp van industriële computertomografie.
De voordelen van onze CT-meetdiensten in een oogopslag:
- Erkende DAkkS-gecertificeerde testmethoden, waaronder het testen van composietonderdelen die uit meerdere materialen bestaan volgens DIN 17025 (zieaccreditatiecertificaat)
- Hoogwaardige industriële computertomografie volgens de beproefde kwaliteitsstandaard van ZEISS.
- Internationale vergelijkbaarheid en erkenning van tests door de wereldwijde DAkks-certificering voorkomt meervoudige tests en bespaart kosten.
- Snelle oplossing van dringende problemen door gegarandeerde resultaten van CT-metingen na 3 werkdagen, maar vaak al eerder.
- Tijdsbesparing door minder matrijscorrectielussen en een verkorting van de "marktintroductietijd."
- Snelle en nauwkeurige gegevensverwerking met de softwarepakketten CALYPSO, GOM Volume Inspect en VGStudioMAX en ZEISS REVERSE ENGINEERING.
Toepassingsvoorbeelden op het gebied van CT-metingen
Of het nu gaat om de lucht- en ruimtevaart, medische technologie, elektronica of auto-industrie: elke bedrijfstak heeft zijn eigen individuele productieprocessen. Net zo verschillend zijn de mogelijke defecten binnenin de onderdelen, die aan de buitenkant niet zichtbaar zijn, maar wel aanzienlijke gevolgen kunnen hebben. Het röntgenen en meten van werkstukken met CT kan deze onzekerheden wegnemen en interne structuren zichtbaar maken met niet-destructieve technologie in 2D en 3D.
Door de verschillende productieprocessen en de extreem hoge variabiliteit van onderdelen, zijn de toepassingsgebieden van CT-metingen in de industriële metrologie zeer uiteenlopend. U kunt bijvoorbeeld denken aan foutenanalyses, assemblagecontroles en de dimensionale metrologie van inwendige structuren van onderdelen en werkstukken. Verwerf nieuwe inzichten in de structuren van uw werkstukken met behulp van computertomografie en röntgentechnologie, en vind de CT-meetdiensten die passen binnen uw dagelijkse bedrijfsvoering.
![Defectenanalyse in 2D]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-two-dimensional.ts-1622813305458.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=4cfc6d8b43a260cc4d876aa6cbb90bcc","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-two-dimensional.ts-1622813305458.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=d25923d11130ab74e3f9f23b1f5180a3","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-two-dimensional.ts-1622813305458.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=cea935beef625abf5e2302a25b9ae476","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-two-dimensional.ts-1622813305458.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=67d6ec5ad8452c838bcac20670912163"})
Defectenanalyse in 2D (P201/P202)
![Defectenanalyse in 3D]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-three-dimensional.ts-1622534577024.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=122eb168b49d1fcf44802001db88ff81","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-three-dimensional.ts-1622534577024.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=a62910b250c0e705f6450e829e379835","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-three-dimensional.ts-1622534577024.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=df8d7e0be87a8a573269c6acb624a8a0","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/defect-analysis-three-dimensional.ts-1622534577024.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=bc7cbfc74d476137f29e4255f27890a1"})
Defectenanalyse in 3D (P203)
![Assemblage-inspectie]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/assembly-inspection.ts-1622813072518.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=9370301a103179b4e1300d76e8e712f5","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/assembly-inspection.ts-1622813072518.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=c49a997d4694f579884504490f48753b","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/assembly-inspection.ts-1622813072518.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=f816985066c36f26f9a91445353be15e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/assembly-inspection.ts-1622813072518.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=8cdd18d349a5fe7b91a97a95d6310bc1"})
Assemblage-inspectie
![Inspectie van verbindingen]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/joining-inspection.ts-1622813729698.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=5b7180b885bfe8a40cdcf95e815f4a35","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/joining-inspection.ts-1622813729698.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=6fc274748710a569fd1d5e418198e18d","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/joining-inspection.ts-1622813729698.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=a45f42c5ff7912025b5ed0e887da505f","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/joining-inspection.ts-1622813729698.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=83e10242a9d2d9e2e36d846baac3fc55"})
Inspectie van verbindingen
![Elektronica-inspectie]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/electronics-inspection.ts-1622642004690.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1995%2C1995&w=640&s=1f23cf02d41105f763407517f2bdc51b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/electronics-inspection.ts-1622642004690.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1995%2C1995&w=1280&s=768c156366c52b88e87e298faf0303f2","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/electronics-inspection.ts-1622642004690.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1995%2C1995&w=832&s=31aa6c4d748660181932f3eb38a88590","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/electronics-inspection.ts-1622642004690.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1995%2C1995&w=1920&s=bdcfa555e30334a55f5ac89c2fe0ae95"})
Elektronica-inspectie
![Microstructuuranalyse]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/microstructure-analysis.ts-1622813814653.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=aca226cbfa4f917981893433916c1179","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/microstructure-analysis.ts-1622813814653.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=169f3cc3e99183ca949cd771d6eb5818","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/microstructure-analysis.ts-1622813814653.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=56ddf4e28685a574d283e8028d616fe9","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/microstructure-analysis.ts-1622813814653.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=e9f6c90d1e3ec4eb6b04ca2d887d6f2a"})
Microstructuuranalyse
![Analyse van vezelcomposietmateriaal]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/fiber-composite-material-analysis.ts-1622643948578.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=ef217753b8c47f05cadab6e11221e932","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/fiber-composite-material-analysis.ts-1622643948578.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=da39a070eca53ddc9412f92b97708482","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/fiber-composite-material-analysis.ts-1622643948578.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=f6e3ff61161cc2204d2478be1e8f0143","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/fiber-composite-material-analysis.ts-1622643948578.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=d62e8e9efa797fb6c0580b8d2846c68d"})
Analyse van vezelcomposietmateriaal
![Poederanalyse]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/powder-analysis.ts-1622813912556.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=61e1011e6805d086c46f3ea73e551eef","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/powder-analysis.ts-1622813912556.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=373f4def258b889d77b79af6f553fa86","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/powder-analysis.ts-1622813912556.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=af3d15e00c4247f826a6475a99d2a7fa","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/powder-analysis.ts-1622813912556.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=e9258bc8b697d5529d712bd3d264b1e0"})
Poederanalyse
![Schuimstructuuranalyse]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/foam-structure-analysis.ts-1622813467614.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=fb04a7a3ecf7a8fe218a2408f5f7e9ea","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/foam-structure-analysis.ts-1622813467614.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=61db97b5631fa44a1afd3fca8bb4164c","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/foam-structure-analysis.ts-1622813467614.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=b1d3c3402d98529e1bca56eecd777596","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/foam-structure-analysis.ts-1622813467614.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=056881347e2c075adc032ce46b5321a7"})
Schuimstructuuranalyse
![Analyse van korrelgrootte en -verdeling]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/grain-size-and-distribution-analysis.ts-1622813594670.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=9c81431a531e71483c49ff647c1302bf","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/grain-size-and-distribution-analysis.ts-1622813594670.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=9b275893991dce76ab85e8f875a3f5ab","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/grain-size-and-distribution-analysis.ts-1622813594670.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=acddb82ed13d41ea5bd5dc6726aec686","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/grain-size-and-distribution-analysis.ts-1622813594670.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=68405182ffc8b245c2e9a8bc0184a6f1"})
Analyse van korrelgrootte en -verdeling
Industriële computertomografie: directe ondersteuning via de app
Met onze gratis app leert u de basisbeginselen van industriële computertomografie. Aan de orde komen onder meer de basisprincipes van het omgaan met röntgenstralen, het proces van scan tot reconstructie en de daaropvolgende evaluatie.
Download de "computertomografie-app"
![QR-code ZEISS computertomografie-app]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-ct-app-qr-code-en.ts-1520510117352.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=240165d7fe022b0034e7702df22cb60a","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-ct-app-qr-code-en.ts-1520510117352.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=3cd08b6063ef495c3981cccb481f99e6","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-ct-app-qr-code-en.ts-1520510117352.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=714e73e700b7b84d1b3c0c42f9690520","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/ct-measurement/zeiss-ct-app-qr-code-en.ts-1520510117352.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=c3fa7f3314693434062b0892235bcb6b"} "QR-code ZEISS computertomografie-app")
Deze bedrijven vertrouwen al op CT-meetdiensten van ZEISS
Neem nu contact met ons op
Onze CT-meetdiensten zijn wereldwijd beschikbaar. Wilt u meer weten over industriële computertomografie en CT-onderzoeken? Vul ons contactformulier in, dan nemen we zo spoedig mogelijk contact met u op.
![ZEISS METROTOM Computed tomography system]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=640&s=1871cff4ca734b3b143e896cde5e0369","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=1280&s=6663cc047fa2a898a47bc404ee1fafb7","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=832&s=9ebc98299d8ee92ccb13bbfd202c377b","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=1920&s=f73a3b19a12205297baf597c3728d6dd"} "ZEISS METROTOM Computed tomography system")
![ZEISS METROTOM 1 - Computed tomography system]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=640&s=82b803a65b6e92183dc5d30b5fbb6ff7","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=1280&s=b9bf16b6bc779db298764804434ed8dd","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=832&s=d8af39aeef8efc0c1d127435cd5b568e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=1920&s=983adbb8eeea80e780a6a49071dc57f5"} "ZEISS METROTOM 1 - Computed tomography system")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/Microscopy/us/img/sectors/ma/xradia-620-versa.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=190%2C74%2C769%2C769&w=640&s=f52e46e59e50e0cdc07017b029a66d2a","large":"https://images.zeiss.com/Microscopy/us/img/sectors/ma/xradia-620-versa.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=190%2C74%2C769%2C769&w=1280&s=92b5708c73d29f2a5dee7d938a7f11f3","medium":"https://images.zeiss.com/Microscopy/us/img/sectors/ma/xradia-620-versa.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=190%2C74%2C769%2C769&w=832&s=426bd3a4c81463e5cbbf9cdcadf19908","full":"https://images.zeiss.com/Microscopy/us/img/sectors/ma/xradia-620-versa.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=190%2C74%2C769%2C769&w=1920&s=1a4c084634b766ae8740064573579ee9"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/optical-measurement/optical-measurement.ts-1520414413197.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C603%2C1919%2C1919&w=640&s=35d3e4991f2e1a33b342db3ccec185c4","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/optical-measurement/optical-measurement.ts-1520414413197.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C603%2C1919%2C1919&w=1280&s=2992188d8bebb84bcb9db80e93e9e643","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/optical-measurement/optical-measurement.ts-1520414413197.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C603%2C1919%2C1919&w=832&s=09235415121eea5120bcb17036bb2628","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/measuring-services/optical-measurement/optical-measurement.ts-1520414413197.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C603%2C1919%2C1919&w=1920&s=ece147194b416b73a67e8d6ccdd23d3c"} "Optical Measurements")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=640&s=9b4e995528e63e17eece0fa5146216a4","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=1280&s=9616a38619a58178d43e6f268e07b01f","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=832&s=2829b0e5b24bcc35b836de7f25a5d86e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=1920&s=bbe35fca454bfe38b96cc161a5de388e"})