ZEISS Scanning Electron Microscopes for Industry:

Onthul het ongeziene.

ZEISS SEM's voor de industrie: Portfolio scanelektronen-microscopie (SEM)

Met zijn scanelektronen-microscopen biedt ZEISS een breed portfolio voor diverse toepassingen op het gebied van industriële kwaliteitsborging en foutenanalyse.

Meer informatie, meer mogelijkheden. SEM-analyses voor de industrie.

Scanelektronenmicroscopie (SEM) wordt gebruikt voor uiterst precieze analyse van de microstructuur van componenten, met uitstekende scherptediepte en hogere resolutie. Deze methode genereert beeldopnames van het monster-oppervlak met een zeer hoge vergroting. Energie-dispersieve röntgenspectroscopie (EDS) kan bovendien worden uitgevoerd op de SEM. Hiermee kan de chemische elementen-samenstelling van materialen worden bepaald.

De oplossingen voor jouw behoeften

Scanelektronen-microscoop (SEM)-serie van ZEISS

	ZEISS EVO familie Standaard instapsysteem	ZEISS Sigma familie Geavanceerd systeem	ZEISS GeminiSEM familie Hoogwaardig systeem	ZEISS Crossbeam familie Hoogwaardig systeem met 3D-mogelijkheden
Resolutie	bij 1 kV: 9 nm	bij 1 kV: 1,3 nm	bij 1 kV: 0,8 nm	bij 1 kV: 1,4 nm
Systeem	Conventionele scanelektronen-microscoop speciaal voor uitdagende analytische EDS-workflows met gebruiksvriendelijke software-opties	Scanelektronen-microscoop met veldemissie voor beeldvorming van hoge kwaliteit en geavanceerde analytische microscopie	Scanelektronen-microscoop met veldemissie voor de hoogste eisen op het gebied van sub-nanometer beeldvorming, analyse en monsterflexibiliteit	Scanelektronen-microscoop met veldemissie voor 3D-analyse en monstervoorbereiding met hoge verwerkingssnelheid en het gebruik van een femtosecond-laser
Voordelen	Verwerkt routine-toepassingen Dubbele condensor voor de beste materiaal-feedback in jouw EDS-routine Flexibel, krachtig en betaalbaar Het slimme alternatief voor tafelmodel-SEM's voor materiaal-analyse Snel resultaat en hoge verwerkingssnelheid	Nauwkeurige reproduceerbare resultaten van elk monster Snel en eenvoudig experimenten opzetten ZEISS Gemini technologie Flexibele detectie voor heldere beelden Sigma 560 heeft de beste EDS-geometrie in zijn klasse	Hoogste beeldkwaliteit en veelzijdigheid Geavanceerde beeldverwerkingsmodes Zeer efficiënte detectie, uitstekende analyse ZEISS Gemini technologie Grote verscheidenheid aan detectoren voor de beste dekking	Beste 3D-resolutie in FIB-SEM-analyse Twee bundels, ionen en elektronen Gereedschap voor monstervoorbereiding Profiteer van de extra femtosecond-laser EDS, EBSD, WDS, SIMS, plus meer op aanvraag Inzichten in monsters maximaliseren door gerichte analyse in de derde dimensie
	ZEISS EVO	ZEISS Sigma	ZEISS GeminiSEM	ZEISS Crossbeam

ZEISS SEM's: Microscopie-oplossingen voor de industrie

De evolutie van ZEISS Gemini optiek
Snelle 3D-storingsanalyse.correlatieve workflow-oplossing van ZEISS.
Schaal-overschrijdende materiaal-analyse in slechts vier stappen.
Lokalisatie en navigatie op de SEM gemakkelijk gemaakt: ZEISS ZEN Connect
Voorbereiding en analyse van vaste batterijen met ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam, ZEISS Orion

Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

ZEISS Gemini-technologie voor de industrie. ZEISS biedt de juiste oplossing voor elke toepassing. Bekijk de video en ontdek de ontwikkeling en voordelen van Gemini-technologie.

De evolutie van ZEISS Gemini optiek
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Bekijk de video over onze correlatieve workflow-oplossing! Kom te weten hoe eenvoudig het is om je gegevens in verschillende technologieën te gebruiken met ZEISS-oplossingen en hoe je betrouwbare en efficiënte resultaten kunt bereiken.

Snelle 3D-storingsanalyse.correlatieve workflow-oplossing van ZEISS.
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Hoe zien jouw macro-scopische structuren eruit? Hoe vind je de interessegebieden in een grote steekproef? Hoe krijg je toegang tot deze interessegebieden (ROI)? En hoe analyseer je ze verder?

Schaal-overschrijdende materiaal-analyse in slechts vier stappen.
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Organiseer, visualiseer en contextualiseer verschillende microscopie-beelden en gegevens van hetzelfde monster: allemaal op één plek. De correlatie tussen afbeeldingen op verschillende schalen kan in de werkruimte worden overlapt en gebruikt voor eenvoudige navigatie.

Lokalisatie en navigatie op de SEM gemakkelijk gemaakt: ZEISS ZEN Connect
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Door intacte monsters te inspecteren, is het mogelijk om veranderingen in de samenstelling vast te stellen die de kwaliteit en levensduur van batterijen beïnvloeden. ZEISS microscopie-oplossingen voor de industrie bieden niet-destructieve 3D-analyses met hoge resolutie. Evenals correlatieve analyses die belangrijk zijn voor kwaliteitsinspectie.

Voorbereiding en analyse van vaste batterijen met ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam, ZEISS Orion

ZEISS efficiënte navigatie

ZEISS ZEN core is jouw software-suite voor gekoppelde microscopie en beeldanalyse. De software geeft je een volledig overzicht in één oogopslag: het biedt één gebruikersinterface voor alle microscopie-resultaten... Geautomatiseerde workflows met één druk op de knop zorgen voor snelle en betrouwbare resultaten.

Een spotlight op correlatieve microscopie.

ZEISS ZEN Connect.

Organiseer en visualiseer verschillende microscopie-beelden om multimodale gegevens met elkaar te verbinden: alles op één plek. Met dit open platform kun je snel overschakelen van algemene overzichten naar geavanceerde beeldvorming: zelfs als je technologie van derden gebruikt. Met ZEN Connect kun je niet alleen alle beeldgegevens uitlijnen, overlappen en in context plaatsen. Hierdoor kun je eenvoudig monsters en beeldgegevens overzetten tussen verschillende licht- en elektronenmicroscopen.

ZEISS ZEN Connect maakt het volgende mogelijk
correlatieve beeldweergave van verschillende microscooptypes (bijv. licht- en elektronenmicroscopen) in een verbonden kaart. Dit is zeer gunstig voor gedetailleerd onderzoek van grote overzichtsbeelden, zoals met batterijcellen. De module maakt het importeren en correleren van niet-beeldgegevens zoals EDS-resultaten mogelijk. Compatibel met de toonaangevende fabrikanten van EDS-systemen.
Een spotlight op correlatieve microscopie.

ZEISS ZEN Connect.

Met ZEN Connect beschik je over een maximum aan relevante gegevens met een minimum aan inspanning: alle interessante gebieden worden automatisch opgehaald na een eenmalige uitlijning en in context weergegeven. Je kunt ook gegevens van meerdere modaliteiten organiseren. Alle beelden die met ZEN Connect zijn verkregen, kunnen worden opgeslagen in een goed gestructureerde database. Elk afbeeldingsbestand krijgt automatisch een individueel vooraf gedefinieerde naam. Elk overlaybeeld en de bijbehorende dataset is gemakkelijk terug te vinden en gebruikers kunnen bovendien zoeken op microscoop-type via de nieuwe filterfunctie.

Gevisualiseerde gegevensverzameling:
ondersteunt het importeren en bijvoegen van niet-beeldgegevens zoals rapporten en omschrijvingen (pdf, pptx, xlsx, docx etc.).

Eenvoudige navigatie:
klik op de overzichtsafbeelding om ROI's in volledige beeldoverlay te onderzoeken of opnieuw te evalueren.

Intelligenter. Meer tijd besparen.

ZEISS ZEN Intellesis.

Met behulp van geëtableerde technieken voor machinaal leren, zoals pixelclassificatie of deep learning, kunnen zelfs niet-deskundige gebruikers betrouwbare, reproduceerbare segmentatie-resultaten behalen met ZEISS ZEN Intellesis. Laad gewoon je afbeelding, definieer klassen, label pixels, train je model en voer segmentatie uit.

De software hoeft maar één keer te worden getraind op een paar afbeeldingen om automatisch batches van honderden afbeeldingen te kunnen segmenteren. Dit bespaart niet alleen tijd, maar vermindert ook de kans op gebruikersgerelateerde afwijkingen. Alle tijdrovende segmentatie-stappen op de vele vergelijkbare afbeeldingen worden afgehandeld door krachtige algoritmes voor machinaal leren.

ZEISS ZEN Intellesis
maakt deeltjes-identificatie door machinaal leren mogelijk, biedt een hogere nauwkeurigheid, het leren van beeldsegmentatie en objectclassificatie.

Intellesis-objectclassificatie
wordt gebruikt om de gesegmenteerde deeltjes verder te classificeren en te sorteren in hun sub-types. Deze informatie kan vervolgens worden gebruikt om deeltjes per type te tellen.
Intelligenter. Meer tijd besparen.

ZEISS ZEN Intellesis.

ZEN Intellesis ondersteunt eenvoudige segmentatie van multi-dimensionale beelden van talloze verschillende beeldbronnen. Waaronder widefield-, superresolutie-, fluorescentie-, labelvrije, confocale, lichtplaat-, elektronen- en röntgenmicroscopie. Met de evaluatiemodules van ZEN kunnen vervolgens automatisch rapporten worden gecreëerd en metingen worden uitgevoerd volgens industriële normen.

Als het gaat om classificatie na segmentatie per type, kiest ZEN Intellesis voor een innovatieve aanpak. In plaats van te kijken naar individuele pixels zoals een typische oplossing voor machinaal leren zou doen, gebruikt het objectclassificatie-model meer dan 50 gemeten eigenschappen per object om ze automatisch te onderscheiden en te classificeren. Gebaseerd op getabelleerde gegevens is dit classificatieproces veel sneller dan segmentatie uitgevoerd door specifiek getrainde diepe neurale netwerken.

Voorbeeld voor laagdikte:
FIB dwarsdoorsnede overlay van CIGS-zonnecellagen: resultaat van Crossbeam 550 InLens detector (rechts) en na ZEN Intellesis-segmentatie machinaal leren (links).

We gebruiken ZEISS ZEN Intellesis voor automatische segmentatie en om de componenten van de tweede fase in tweefasenstaal beter te analyseren. De software verandert de manier waarop we materialen karakteriseren en leidt tot snellere en betrouwbaardere resultaten.

Het ArcelorMittal Tubarão-team Lees meer over gebruikerservaringen in de SEM-brochure.