Hoogwaardige SEM met veldemissie

ZEISS GeminiSEM

De leider in monsterflexibiliteit

Ontdek het onbekende en voldoe aan de hoogste eisen op het gebied van sub-nanometer beeldvorming, analyse en monsterflexibiliteit met een SEM met veldemissie. Het systeem maakt analyses met een hoge verwerkingssnelheid mogelijk en biedt tegelijkertijd een uitstekende resolutie bij lage spanning, hoge snelheid en hoge sondestroom.

  • Hoogste beeldkwaliteit en veelzijdigheid
  • Geavanceerde beeldverwerkingsmodi
  • Zeer efficiënte detectie, uitstekende analyse 
  • Meer dan 25 jaar geperfectioneerde ZEISS Gemini-technologie
  • Grote verscheidenheid aan detectoren voor de beste dekking

ZEISS GeminiSEM voor de industrie

Ervaar een nieuwe kwaliteit bij de inspectie van uw monsters.

Het systeem maakt analyses met een hoge verwerkingssnelheid mogelijk en biedt tegelijkertijd een uitstekende resolutie bij lage spanning, hoge snelheid en hoge sondestroom. Met zijn royale gezichtsveld en extreem ruime kamer is het eenvoudig om zelfs zeer grote monsters te onderzoeken.

ZEISS GeminiSEM levert efficiënte karakterisering van chemische samenstelling en kristaloriëntatie met twee diametraal tegenover elkaar liggende EDS-poorten en een coplanaire EDS/EBSD-configuratie. Vertrouw op schaduwvrije mapping op hoge snelheid.

Pas uw workflows aan en automatiseer ze: als u materialen tot aan hun technische grenzen moet testen, stelt ZEISS u een geautomatiseerd in-situ verwarmings- en mechanisch stresslaboratorium ter beschikking.

Toepassingsgebieden in een oogopslag

  • Foutenanalyse op mechanische, optische en elektronische componenten
  • Breukanalyse en metallografie
  • Karakterisering van oppervlak, microstructuur en apparaat
  • Samenstelling en faseverdeling
  • Onzuiverheid en inclusiebepaling

Kom meer te weten in onze video's over GeminiSEM

  • Verwarmings- en trekexperimenten | In Situ voor ZEISS FE-SEM

    Bekijk de nieuwe workflow-video en leer hoe u geautomatiseerde verwarmings- en trekexperimenten in situ kunt uitvoeren met In Situ Lab voor ZEISS
  • ZEISS GeminiSEM familie: uw FE-SEM's voor ultieme beeldvorming en moeiteloze analyse

    De ZEISS GeminiSEM familie biedt drie nieuwe modellen voor onderzoekers in disciplines van materialen tot biowetenschappen. Drie unieke ontwerpen voor de Gemini-elektronenoptiek en een grote, flexibele nieuwe kamer dekken al uw behoeften op het gebied van beeldvorming en analyse.

Beeldvorming en materiaalanalyse van lithium-ion accu's

  • Kathodematerialen in de auto-industrie

    De prestaties van functionele materialen en geavanceerde apparaten zoals accu's, zonnecellen en brandstofcellen zijn afhankelijk van de microstructuur van het gebruikte materiaal. Om deze materiaalcomposieten de gewenste prestaties te laten leveren, moet de wisselwerking tussen veel verschillende materialen werken.

    De focus ligt hier op de materialen nikkel, mangaan en kobalt. Dit type accu wordt Li-NMC, LNMC, NMC of NCM genoemd. De aanduidingen NCM 111, 523 etc. geven de respectieve samenstellingsverhouding van nikkel, kobalt en mangaan aan. Het voorbeeld toont de doorsnede van een lithium-ion accu met een kathode van NCM 111. Het opladen en ontladen van lithium-ion accu's leidt tot veranderingen in de microstructuur. Er ontstaan barsten die het oppervlak van de SEI-laag vergroten. Dit vermindert de prestaties van de accu.

  • Met behulp van een elektronenmicroscoop kunnen we zien dat er structurele verschillen zijn tussen de NCM-varianten wanneer er fundamenteel rekening wordt gehouden met andere productiefactoren. Gezien in doorsnede zijn de primaire deeltjes van 811 veel kleiner dan die van 532 of 111. Dit uitstekende materiaalcontrast van de subkorrelstructuur is alleen zichtbaar met een functie die uniek is voor ZEISS-elektronenmicroscopen - de EsB-detector (Energy Selective Backscatter).

    Een betere samenstelling van de elektrolyten kan leiden tot minder fysieke slijtage van de kathodematerialen. Met betere chemische processen kunnen kathodematerialen met grotere korreldeeltjes worden geproduceerd.

  • Lithium-ion accucel: EDX-element distributiebeeld

    Dwarsdoorsnede van lithium-ion accucel met volledige capaciteit: EDS-mapping (O, Al, F, Si en C). Het is mogelijk om energiedispersieve spectroscopie (EDS) te gebruiken om de elementaire samenstelling van onderzochte objecten in de microscoop te bevestigen.

    Dit beeld bevestigt hoge niveaus van restfluor aan de kathodezijde, zoals verwacht in een verouderd monster. Fluor wordt gevonden in de elektrolyt en voegt zich bij een SEI-laag die toeneemt met veroudering. De boehmietscheider vertoont aluminium- en zuurstofsignalen, zoals verwacht. Koolstof wordt gebruikt als geleidend middel in het bindmiddel. Aangezien het polymeer van de separator een koolwaterstof is, betekent dit dat er overal in de accu koolstof te zien is.

  • Materiaalanalyse: korrelgrootteanalyse met AI-segmentatie

    Korrelgrootte en -verdeling zijn direct gerelateerd aan de materiaaleigenschappen. Kwantificeer de kristallografische structuur van uw materialen volgens internationale normen. U kunt je monsters karakteriseren met behulp van drie evaluatiemethodes:

    • Planimetrische methode voor de automatische reconstructie van korrelgrenzen
    • Interceptiemethode met verschillende meetrasters voor interactieve detectie en telling van snijpunten van korrelgrenzen
    • Vergelijkingsmethode voor handmatige beeldevaluatie met vergelijkingsdiagrammen
  • ZEISS ZEN Intellesis-software maakt gebruik van machinaal leren-algoritmes en een vooraf getraind model om de vreemde fase- en korrelgrenzen te herkennen. Met één klik kunt u het instantiesegmentatiemodel en de te segmenteren klasse selecteren.

    De resultatenweergave bevat alle afbeeldingen en resultaten van de uitgevoerde analyse. De originele afbeeldingen worden ook getoond. U kunt alle resultaten van de analyse bekijken in een duidelijke tabelweergave en in een staafdiagram voor de korrelgrootteverdeling.

Downloads



Contact ons

Geïnteresseerd in onze producten of diensten? We geven je graag meer informatie of een live demo, op afstand of persoonlijk.

Wens je meer informatie?

Neem contact met ons op. Onze experts nemen contact met je op.

Formulier is aan het laden...

/ 4
Volgende stap:
  • Je vraag
  • Persoonlijke gegevens
  • Bedrijfsgegevens

Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.