ZEISS Oplossingen voor technische reinheid

De hoofdoorzaak identificeren en sneller de juiste beslissingen nemen

Snellere standaardanalyse
Detecteer glimmende metalen deeltjes met slechts één filterscan

Snellere deeltjesclassificatie
Combineer lichtmicroscopie en elektronen in een naadloze workflow

Snellere besluitvorming
Analyseer de chemische samenstelling van kritische deeltjes om de bron van verontreiniging te identificeren

Snellere documentatie
In één stap reinheidsrapporten maken die voldoen aan alle huidige industrienormen

Snellere deeltjesinspectie
en verificatie met geïntegreerde algoritmen voor machinaal leren

Wat is technische reinheid?

Technische reinheid speelt een belangrijke rol, vooral in gebieden waar onderdelen worden gemaakt, zoals elektrotechniek of de auto-industrie. Als er vervuiling optreedt op deeltjesgevoelige punten, kan dit snel leiden tot functiestoornissen of zelfs storingen. Als het restvuil in een systeem zo laag is dat er geen schade optreedt, wordt het technisch schoon geacht.

Technische reinheid is vooral belangrijk in de volgende sectoren:

Auto's en elektrische voertuigen
Medische industrie
Werktuigbouwkunde
3D printen
Elektrotechniek en batterijproductie
Optische industrie
Olieanalyse en hydraulica

Waarom is technische reinheid zo belangrijk?

Dankzij de technologische vooruitgang vereisen veel industrieën steeds complexere systemen. Al in de jaren 1990 was er een toename van schade door vervuiling op onderdelen in de auto-industrie. Het werd al snel duidelijk dat de procedures gestandaardiseerd moesten worden. De zogenaamde "VDA 19-richtlijn", ook bekend als "Testen van technische reinheid - Deeltjesvervuiling van functioneel relevante auto-onderdelen", werd gepubliceerd in 2004 en herzien in 2015 als VDA 19 Deel 1. Op internationaal niveau vormt ISO 16232 (2007) de standaardset voorschriften. VDA 19 Deel 2 uit 2010 bevat een richtlijn met regels voor de reinheidsrelevante oriëntatie van assemblageproductie.

VDA 19 Deel 1 definieert precies verschillende soorten vervuiling. Met behulp van deze definities kan vervuiling worden opgespoord door middel van reinheidsanalyses en andere technische reinheidsprocessen en kunnen de juiste beslissingen worden genomen. Het doel is om restvuil op onderdelen preventief te voorkomen.

Deeltjes	Vezels
Vaste lichamen van Metaal Plastic Mineralen Gommen Zouten	De verhouding tussen lengte en breedte is 1:20 Breedte van een vezel: ≤ 50 µm

Correlatieve deeltjesanalyse om proceskritische verontreiniging te karakteriseren

Leveranciers, fabrikanten en eindgebruikers verwachten steeds hogere kwaliteitsnormen. Daarom is een innovatief ontworpen reinheidsproces essentieel om elke verontreiniging van functioneel relevante onderdelen en componenten tijdens het productieproces uit te sluiten. ZEISS-oplossingen voor technische reinheid identificeren de hoofdoorzaak van vervuiling en maken het mogelijk om sneller de juiste beslissing te nemen.

Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Lees in ons succesverhaal waarom een Oostenrijkse fabrikant van grote motoren tien jaar geleden normen voor technische reinheid invoerde. En waarom de ZEISS EVO scanelektronenmicroscoop hierin een sleutelrol speelt.

De naald in de hooiberg vinden
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Hoe identificeert u de hoofdoorzaak? ZEISS Oplossingen voor technische reinheid
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Verhoog uw productiviteit voor objectclassificatie in ZEISS ZEN core Technische reinheidsanalyse.
Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

ZEISS Technical Cleanliness Workflow met extractie en filtratie

Geoptimaliseerde processen dankzij oplossingen voor technische reinheid

Maximale reinheid - Maximale kwaliteit

Vervuiling door deeltjes is de vijand van de efficiëntie, functionaliteit en levensduur van elk product. Onderzoek heeft bijvoorbeeld aangetoond dat de belangrijkste oorzaak van storingen in hydraulische en oliegevulde systemen te wijten is aan vervuiling door deeltjes. Olieanalyse helpt de onderhoudskosten te minimaliseren en de uptime van machines te verbeteren.

Afgestemd op de behoeften van de productie-industrie

ZEISS Technical Cleanliness Solutions zijn ontwikkeld in samenwerking met autofabrikanten en -leveranciers. Ze hadden specifieke eisen voor krachtige systemen voor de identificatie en karakterisering van deeltjes die eenvoudig en intuïtief te gebruiken zijn.

Als gevolg hiervan zijn de oplossingen van ZEISS eenvoudig te gebruiken, kunnen ze worden ingezet op meerdere locaties en in elke productie- of industriële omgeving, en kunnen ze worden toegepast door gebruikers die geen microscopiedeskundigen zijn.

ZEISS Technical Cleanliness Solutions werken met geëtableerde industrienormen:

Technische reinheid van componenten	Reinheid van olie	Reinheid van medische hulpmiddelen tijdens het productieproces
VDS 19.1	ISO 4406	VDI 2083, deel 21
VDA 19.2 (Illig waarde)	ISO 4007
ISO 16232	DIN 51455
	SAE AS 4059

Om reinheidsrapporten te maken met alle relevante gegevens in één werkstap kunnen ZEISS microscopen en HYDAC extractie-instrumenten gegevens in een naadloze workflow uitwisselen in één rapport voor meer productiviteit. Lees in ons magazine alles over hoe ZEISS gegevens van HYDAC-apparaten in de rapportering integreert.

50 procent sneller met ZEISS One-Scan Technology

Efficiënter met innovatieve softwareoplossing van ZEISS

Naast de kwantificering van deeltjes en de meting van hun grootte, vereisen de normen voor technische reinheid ook een onderscheid tussen metaal-glanzende en niet-glanzende deeltjes. Conventionele methodes kunnen dit onderscheid alleen maken door het filtermembraan twee keer te scannen, telkens met verschillende polarisator- en analysatororiëntaties. Met de bekroonde ZEISS One-Scan Technology is dit nu mogelijk met slechts één scan - waardoor de tijd tot aan het resultaat met wel 50 procent wordt verkort. In maart 2021 bekroonde het Fraunhofer-instituut voor productietechniek en automatisering (IPA) ZEISS met haar One-Scan Technology met de eerste plaats in de REINER! Fraunhofer Purity Technology Award.

De evaluatie met ZEISS ZEN core Technische reinheidsanalyse omvat:

Een volledig automatische evaluatie
Informatie over grootte, lengte, gebied en coördinaten van de artefacten
Het onderscheid tussen metaalachtige glanzende en niet-metaalachtige glanzende deeltjes kan worden gemaakt met een enkele scan van het filtermembraan
Artefacten met een verdeling in grootteklassen, als point cloud met productvingerafdruk

Maximale productiviteit. Gerealiseerd door technische reinheidsanalyse

ZEISS-software versnelt classificatie van deeltjes met machinaal leren.

Technische reinheid maakt deel uit van de ZEN core softwareportfolio van de industriële microscopiesector. Om de classificatie van deeltjes te optimaliseren, biedt ZEISS gebruikers van ZEISS ZEN core nu de oplossing Technical Cleanliness Analysis (TCA) met drie vooraf getrainde modules op basis van machinaal leren. Deze module biedt de functionaliteit om deeltjes te classificeren op basis van gemeten parameters van een geanalyseerd beeld. Monsters worden geanalyseerd met behulp van drie voorgetrainde modellen voor machinaal leren die aanvullend kunnen worden getraind door gebruikers en klanten. Monsters worden geanalyseerd via grijsschaalbepaling en het voorgetrainde Machine Learning-model voor objectclassificatie draait op de achtergrond in de nieuwe TCA-taaktemplates, terwijl de typeclassificatie parallel wordt gecontroleerd op basis van de bestaande meetresultaten van deeltjes. Deze extra controle van de typeclassificatie via algoritmen voor machinaal leren kijkt naar de deeltjesresultaten die verkregen zijn met de klassieke analyse voor onder andere grootte, vorm, intensiteit en typeclassificatie en combineert de verschillende kenmerken in een groot aantal ongecorreleerde beslisbomen. De resultaten worden voor elke beslisboom afzonderlijk geëvalueerd met behulp van de classificatie die is getraind voor het objectclassificatiemodel. Het resultaat is een automatische voorspelling van het deeltjestype.

Verhoog de productiviteit met ZEISS Technical Cleanliness objectclassificatie:

Tot 50 % reductie van miskalibratie van donkere metalen onderdelen en tot 25 % tijdsbesparing

Productiviteit verhogen met ZEISS Technical Cleanliness objectclassificatie

Deeltjesbeeld met en zonder objectclassificatie in vergelijking: bijv. met 10 monsters betekent dit een potentiële tijdsbesparing van 3,5 uur/dag.

Ondersteuning voor dubbele camera

Klanten en laboratoria met verschillende analysetoepassingen, zoals metallografie en technische reinheidsanalyse, hebben verschillende cameramodi, polarisatie en kleurweergave nodig in één workflow. De ZEISS dubbele camera-ondersteuning met Axiocam 705pol en een Axiocam-kleurencamera biedt de volgende voordelen voor gebruikers van microscopen:

Live omschakeling van polarisatiekanalen voor een betere visuele identificatie van metaaldeeltjes of helder schijnende metallografische monsters
Live kleurenweergave voor een snelle inspectie van deeltjes en identificatie van een mogelijke hoofdoorzaak. Kleurencamera voor metallografische monsteranalyse en inspectie.

U profiteert van:

Volledige flexibiliteit voor verschillende toepassingen
Direct schakelen tussen twee camera's
Productiviteitsverhoging en hogere procesveiligheid voor betere resultaten

Controle technische reinheid dankzij het overschrijden van normen

De ZEISS-portfolio maakt gecombineerde detectie en classificatie van deeltjes mogelijk in een zeer efficiënte workflow die niet alleen deeltjes vindt, maar ze ook classificeert op basis van de oorsprong van de verontreiniging. Met ZEISS kunt u gegevens van licht- en elektronenmicroscopen combineren in één werkproces om extra informatie te verkrijgen. Verkrijg zo gefundeerd inzicht in de oorzaak van de besmetting.

Uitgebreide technische zuiverheid dankzij ZEISS

Lichtmicroscopiesystemen

Potentiële besmettingsgevaren herkennen

Onderscheid metalen van niet-metalen deeltjes en vezels tot 2 μm. Maak reinheidsrapporten volgens de industrienormen.

Correlatieve deeltjesanalyse

Geavanceerde analyseworkflows opzetten

Karakteriseer proceskritische deeltjes en identificeer kritische deeltjes met correlatieve microscopie, die uw gegevens van zowel licht- als elektronenmicroscopen combineert in één workflow.

Elektronenmicroscopie en EDS-systemen

Bronnen van verontreiniging lokaliseren

Meet de morfologische eigenschappen van deeltjes en gebruik volledig geautomatiseerde elementanalyse om deeltjes te classificeren op chemische samenstelling. ZEISS SmartPI, de deeltjesanalysesoftware voor elektronenmicroscopen, automatiseert de detectie, analyse en classificatie van deeltjes en combineert microscoopbesturing, beeldverwerking en elementaire analyse in één enkele toepassing.

Betreed een nieuw tijdperk van technische reinheid met ZEISS

Uw voordelen van industriële meetoplossingen van ZEISS:

Snellere analyses en beslissingen met de nieuwste meettechniek
Voor technische reinheid in productie, elektrotechniek, de auto-industrie en nog veel meer
Deeltjesmeting volgens geëtableerde industrienormen (bijv. VDA 19.1, ISO 16232)
Vervuiling van restvuil volgens geëtableerde reinheidstests
Testen en reinheidsanalyse volgens gestandaardiseerde extractieprocedures
Uitgebreide reeks meetservices: van onderhoud, service en reserveonderdelen tot software- en hardware-upgrades, kalibratie, planning en advies
Ondersteuning voor u en uw werknemers voor elke metrologie-uitdaging door middel van cursus en opleiding in onze ZEISS Metrology Academy