ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Eén CT-systeem. Veel toepassingen.

Met ZEISS METROTOM 1500 beschikt u over geavanceerde CT-technologie - waarbij gebreken betrouwbaar worden gedetecteerd door defecten onder het oppervlak vast te leggen en te meten. Wat deze CT anders maakt: het levert snelle beelden met een hoge resolutie voor zowel kleine als grote onderdelen - en alles daartussenin.

  • Scannen met hoge snelheid
  • Gedetailleerde CT-beeldkwaliteit
  • Nauwkeurige metrologie (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Optionele DAkkS-certificering
  • Compacte voetafdruk

Voordelen

Betere beeldkwaliteit
Betere beeldkwaliteit

Betere beeldkwaliteit

Hoge resolutie en traceerbare nauwkeurigheid

ZEISS METROTOM 1500 heeft een uitstekende beeldkwaliteit die zelfs kleine defecten duidelijk weergeeft. De software AMMAR, BHC en de hardwaremodule ZEISS scatterControl maken het verschil voor onbetwiste kwaliteit. De CT is bovendien gespecificeerd overeenkomstig de VDI/VDE 2630-richtlijn voor traceerbare nauwkeurigheid.

Dankzij de hoogwaardige meettechnische expertise van ZEISS, die ook wordt gebruikt in CT-technologie, kunt u vertrouwen op hoge meetnauwkeurigheid. Een MPE(SD) van 4,5 + L/50 μm volgens VDI/VDE 2630 blad 1.3 is gegarandeerd over het gehele gezichtsveld - voor meetresultaten waarop u kunt vertrouwen.

Veelzijdigheid van het systeem

Veelzijdigheid van het systeem

Geschikt voor een grote verscheidenheid aan onderdelen en toepassingen

ZEISS METROTOM 1500 scant kleine onderdelen met zeer hoge resolutie en onderdelen tot 615 mm in diameter en 800 mm in hoogte als een volledige reconstructie. Dit wordt bereikt door het gezichtsveld zowel horizontaal als verticaal uit te breiden. Dankzij de flexibele buis met een brandpunt van slechts enkele micrometers aan de ene kant en een maximaal vermogen van 500 W aan de andere kant, kunnen kleine onderdelen gescand worden met een zeer hoge resolutie en kunnen grote onderdelen gescand worden in een korte tijd. Dit maakt het systeem ideaal voor vele toepassingen

DAkkS-kalibratie Uw toegangspoort tot betrouwbare metingen

DAkkS kalibratie

Uw toegangspoort tot betrouwbare metingen

Hogere kwaliteitsnormen in de auto-, medische of farmaceutische industrie vereisen vaak de toepassing van geaccrediteerde CT-inspectieprocedures. Deze garanderen een objectieve, normconforme meting van onderdelen overeenkomstig VDI/VDE 2630 Deel 1.3. DAkkS-kalibratie is ook beschikbaar voor de ZEISS METROTOM 1500 serie industriële computertomografen. Profiteer van de toegevoegde waarde: bespaar kosten en creëer meer vertrouwen bij uw klanten.

Slim ontwerp voor beperkte ruimte

Slim ontwerp voor beperkte ruimte

De meest efficiënte ruimtebenutting

De vergelijkbaar kleine voetafdruk en de slimme constructie van de deur voor zowel service als het laden van onderdelen maken flexibele installatie mogelijk, zodat u de CT in uw meetlab kunt inpassen, zelfs als de ruimte beperkt is. Om u te helpen de beschikbare ruimte optimaal te benutten, hebben we bovendien de meetomvang vergroot en tegelijkertijd het vloeroppervlak verkleind: Meet en inspecteer onderdelen met een hoogte van 870 mm op een oppervlak van 3,7 x 1,8 meter - de beste verhouding tussen systeem en onderdeelvolume op de markt.

Complete onderdelen inspecteren

Complete onderdelen inspecteren

Ideaal voor onderdelen van meerdere materialen

Met traditionele meettechnologie kunnen verborgen structuren alleen worden geïnspecteerd, nadat de component tijdens een tijdrovend en duur proces laag voor laag vernietigd is. ZEISS METROTOM 1500 is echter een metrologie-CT voor het meten en inspecteren van complete componenten van kunststof en/of licht metaal of zelfs koper of staal.

ZEISS scatterControl​  ​
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl

Uitzonderlijke CT-beeldkwaliteit

De hardwareoplossing ZEISS scatterControl verbetert de beeldkwaliteit van de ZEISS METROTOM 1500 CT aanzienlijk door scatterartefacten van CT-scans tot een minimum te beperken. Dit vergemakkelijkt de daaropvolgende stappen voor gegevensverwerking en evaluatie, wat resulteert in een nog nauwkeurigere oppervlakbepaling en defectanalyse.

 Ontdek meer voordelen van ZEISS METROTOM 1500.

Toekomstbestendige kwaliteitscontrole

Toekomstbestendige kwaliteitscontrole 
Meten en inspecteren van grotere onderdelen

De derde generatie van de ZEISS METROTOM 1500 maakt metingen van grotere onderdelen in één reconstructie mogelijk dankzij een grotere meetomvang: Met het nieuw ontworpen positioneringssysteem passen onderdelen met een hoogte tot 870 mm in de CT zonder dat ze verplaatst hoeven te worden.

Compacte voetafdruk

Voor transport, installatie, onderhoud of de gebruikte ruimte in het lab van de klant geldt: hoe kleiner het systeem, hoe beter. Het ontwerp van de cabine van het grootste industriële CT-systeem van ZEISS was volledig gericht op efficiënt ruimtegebruik, wat resulteerde in een oppervlak van slechts 6,7m2.

Comfortabelere bediening

Via de voordeur kan de operator het systeem betreden en gebruiken als servicetoegangspunt, wat het laden van grotere en zwaardere onderdelen gemakkelijker maakt. Dit staat de gebruiker toe om eenvoudig, veilig en nauwkeurig CT-metingen uit te voeren. Aangezien ZEISS METROTOM 1500 geen significante extra ruimte boven, achter of aan de zijkanten nodig heeft, kan het systeem zeer flexibel worden geïnstalleerd.

Toepassingen

  • Industrie

    Industrie

    Geschikt voor lichtmetalen onderdelen, composieten, onderdelen van meerdere materialen, kunststof onderdelen en additieve productie.

  • Lucht- en ruimtevaartturbine

    Lucht- en ruimtevaart

    Zeer geschikt voor betrouwbaar scannen van bijvoorbeeld titanium, stalen of composiet bladen om te voldoen aan industriële normen en veiligheidseisen.

  • Automotor haarspeld

    Automotive

    Ideaal voor het scannen van aandrijflijnen, dashboardonderdelen en aluminium gietstukken zoals cilinderkoppen of statorhuizen.

  • Medisch

    Medisch

    Precies scannen van medische onderdelen zoals injectoren, implantaten, inhalatoren of pacemakers.

  • Elektronisch moederbord

    Elektronica

    Scant veilig connectoren, batterijen, printplaten en andere elektrische componenten.

  • ZEISS INSPECT X-Ray Uitgebreide CT-gegevensanalyse in 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Alomvattende CT-gegevensanalyse in 3D

    De gebruiksvriendelijke analysesoftware ZEISS INSPECT X-Ray maakt volledige CT-gegevensanalyse in 3D mogelijk - geautomatiseerd of gepersonaliseerd en zelfs geschikt voor beginners. Geometrieën, krimpgaten of interne structuren en samenstellingen kunnen precies worden geanalyseerd. Zelfs kleine defecten worden zichtbaar op afzonderlijke doorsnedebeelden. U kunt ook volumedata van verschillende onderdelen in een project laden, een trendanalyse uitvoeren en de resultaten vergelijken met CAD-gegevens - in slechts één software.

  • ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    Kunstmatige intelligentie in computertomografie

    De ZADD add-on in ZEISS INSPECT X-Ray detecteert zelfs kleine en vage defecten betrouwbaar, snel en automatisch. ZADD detecteert, lokaliseert en classificeert deze defecten of afwijkingen en analyseert ze in detail door CT-scans te lezen. De software add-on is speciaal ontwikkeld voor toepassingen zoals gietstukken, spuitgegoten onderdelen en geprinte componenten.

  • ZEISS PiWeb Zet kwaliteitsgegevens om in zinvolle resultaten

    ZEISS PiWeb

    Zet kwaliteitsgegevens om in zinvolle resultaten

    De ZEISS PiWeb reporting- en beheersoftware voor kwaliteitsgegevens helpt meetresultaten van verschillende meettechnologieën te koppelen aan beslissingen in de werkplaats - voor een efficiënte opvolging van uw productiekwaliteit en onmiddellijke resultaten. Gebruik ZEISS PiWeb reporting om GR&R-studies uit te voeren, kwaliteitsbeheer van gegevens te controleren, met handmatige gegevens te werken, krachtige statistieken te creëren en te profiteren van verschillende kant-en-klare standaardrapport-templates.

Kenmerken van ZEISS METROTOM OS

Softwareoplossingen voor efficiënte CT-scans 

  • Geavanceerde vermindering van gemengde materialen (AMMAR)

    Geavanceerde vermindering van gemengde materialen (AMMAR)

    Zie meer details in uw onderdelen bij de overgang van metaal naar kunststof: Het AMMAR-correctieproces vermindert artefacten die optreden bij het scannen van werkstukken met verschillende materialen en diktes aanzienlijk, vooral bij connectorachtige onderdelen met metaal en kunststof.

  • Virtuele horizontale detectoruitbreiding (VHD)

    Virtuele horizontale detectoruitbreiding (VHD)

    Meet werkstukken die breder zijn dan de detector: VHD vergroot de mogelijke volumediameter van uw captures met wel 80 %. Hiermee kunnen onderdelen gescand worden die aanzienlijk breder zijn dan de detector of kunnen kleinere onderdelen gescand worden met kleinere voxelgroottes en dus hogere resoluties.

  • VolumeMerge

    VolumeMerge

    Het buitengewoon precieze positioneringssysteem, waarvoor we onze kennis uit de wereld van tactiele metingen hebben toegepast, heeft de grootte van de componenten die in het systeem moeten worden gereconstrueerd, vergroot tot 870 mm in hoogte. Dit betekent dat grote componenten volledig kunnen worden vastgelegd in slechts één geautomatiseerd proces, waardoor tijdrovende herpositionering en uitlijning door de gebruiker niet meer nodig is.

  • ShortScan

    ShortScan

    ShortScan is een scanmodus waarin een onderdeel slechts iets meer dan een halve rotatie hoeft uit te voeren in plaats van een volledige rotatie. Hierdoor kunt u specifieke gebieden in onderdelen scannen met een hogere resolutie die anders geometrisch beperkt zouden zijn met een volledige rotatie.

  • Scheiding

    Scheiding

    Automatische scheiding verhoogt de productiviteit door meerdere componenten tegelijk te scannen en ze automatisch afzonderlijk te evalueren, waardoor de scantijd en de interactie van de operator aanzienlijk worden verkort.

ZEISS METROTOM-familie

Downloads



Contact ons

Geïnteresseerd in onze producten of diensten? We geven je graag meer informatie of een live demo, op afstand of persoonlijk.

Wens je meer informatie?

Neem contact met ons op. Onze experts nemen contact met je op.

Formulier is aan het laden...

/ 4
Volgende stap:
  • Je vraag
  • Persoonlijke gegevens
  • Bedrijfsgegevens

Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.