ZEISS scatterControl

Uitzonderlijke CT-beeldkwaliteit

De hardware-oplossing voor geoptimaliseerde beeldkwaliteit

De module ZEISS scatterControl verbetert de beeldkwaliteit aanzienlijk en beperkt scatter-artefacten van CT-scans tot een minimum. Deze verbeteringen vergemakkelijken de gegevensverwerking en evaluatiestappen, wat resulteert in een nog nauwkeurigere oppervlakbepaling en defect-analyse. Het product is ideaal voor onderdelen met een groot volume en een hoge dichtheid. Zoals additief vervaardigde metalen onderdelen en gegoten aluminium onderdelen. Zelfs met stalen inlagen, en andere assemblages die dichtere materialen bevatten.

De module is beschikbaar voor ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, als retrofit-oplossing of als onderdeel van de aankoop van een nieuw systeem. Upgrade je systeem nu met ZEISS scatterControl en profiteer van superieure beeldkwaliteit voor eenvoudigere gegevensevaluatie.

Betere beeldkwaliteit, betere defect-detectie

ZEISS scatterControl verbetert de kwaliteit van CT-beelden aanzienlijk door het optreden van artefacten veroorzaakt door verstrooide straling te verminderen. Het contrast tussen de verschillende onderdelen wordt vergroot en het opsporen van defecten wordt vereenvoudigd: gebieden van onderdelen die voorheen bijna onmogelijk te beoordelen waren, kunnen nu worden geëvalueerd.
Verbeterde oppervlak-bepaling

Niet alleen defect-detectie, maar de algehele kwaliteit van de oppervlak-bepaling profiteert van ZEISS scatterControl. Dit is een aanzienlijk voordeel voor metrologie-toepassingen op uitdagende onderdelen, waar artefacten het proces van oppervlak-bepaling verstoren als ze niet worden gecorrigeerd.
Snel scannen met VAST-modus

ZEISS scatterControl werkt met zowel 'Stop and Go' als VAST-scanmodus. De scatterControl-oplossing biedt superieure beeldkwaliteit voor cone-beam CT die vergelijkbaar is met de kwaliteit van fan-beam CT. Maar haalt 1000x snellere scantijden!
Gebruiksvriendelijk

ZEISS scatterControl is een oplossing met één klik. De module werkt naadloos samen met andere nuttige functies van METROTOM OS, zoals VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) of VolumeMerge, en is volledig geïntegreerd in de software.

ZEISS scatterControl voor betere defect-analyse

ZEISS scatterControl verbetert de beeldkwaliteit van CT-scans aanzienlijk voor uiteenlopende onderdelen en industrieën. Daar zijn duidelijke redenen voor: variërend van efficiënte artefact-verwijdering tot de positionering van de module ten opzichte van het werkstuk. Ontdek hieronder hoe je de module kunt gebruiken voor uitstekende defect-detectie en -analyse.

Minder artefacten voor verbeterde CT-beeldkwaliteit

ZEISS scatterControl maakt een duidelijk verschil. Gebruik het schuifelement om de röntgen-beeldkwaliteit te vergelijken die kan worden bereikt met en zonder de scatterControl-module. Het verbeterde beeld heeft een hoger contrast en minder artefacten, waardoor details veel duidelijker naar voren komen.

Superieure kwaliteit dankzij module-positionering

ZEISS scatterControl bereikt een superieure kwaliteit in vergelijking met soortgelijke producten dankzij het werkingsprincipe van de module: deze bevindt zich tussen de buis en de detector. Kleinere objecten, zoals dichte additief geproduceerde onderdelen, kunnen voor de module geplaatst worden. Grotere objecten erachter. Het werkt op beide manieren. Bovendien voorkomen de ingebouwde fysieke botsingsensor en de geavanceerde botsingsvoorspellende software effectief botsingen.

Ideaal voor uiteenlopende onderdelen en industrieën

Gieterij: massieve aluminium of magnesium onderdelen, zelfs met stalen inleg
Automobiel: gietstukken met stalen inleg, vermogenselektronica
3D printen: dichte, metaal-geprinte onderdelen

Verbeterde 3D-inspectie

Verbeteringen in de volumedata leiden tot een veel eenvoudigere evaluatie. 3D-oppervlakken kunnen worden bepaald en gerenderd zonder storende artefacten. Veel artefacten zijn meestal het resultaat van verstrooide straling en veroorzaken pseudo-oppervlakken die nauwkeurige metingen belemmeren.

Betrouwbare evaluatie-software voor röntgeninspectie

De ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)-software detecteert betrouwbaar zelfs de kleinste defecten. Geschikt voor spuitgegoten, medische, additief vervaardigde onderdelen en meer.

Meer informatie

Onderdelen die het meest profiteren van ZEISS scatterControl zijn massieve aluminium of magnesium onderdelen, gietstukken met stalen inleg, vermogenselektronica, maar ook dichte en metaalbedrukte onderdelen.
ZEISS scatterControl is een oplossing met één klik. Software- en hardware bescherming tegen botsingen zijn al geïntegreerd. Wat betekent dat je het scanproces zonder extra stappen kunt starten.
Ja, ZEISS scatterControl is een ideale retrofit-oplossing voor ZEISS METROTOM 1500 G3. Updates, bijv. voor METROTOM OS, kunnen nodig zijn om je CT met de scatterControl-module te verbeteren.

Contact ons

Geïnteresseerd in onze producten of diensten? We geven je graag meer informatie of een live demo, op afstand of persoonlijk.

ZEISS Metrology shop

Eenvoudig meetkoppen, meetaccessoires en meer bestellen

ZEISS Metrology-portaal

Krijg toegang tot het volledige aanbod van systemen en software-services

ZEISS Academy Metrology

Vind specifieke succesverhalen en andere, relevante onderwerpen voor jouw branche

Wens je meer informatie?

Neem contact met ons op. Onze experts nemen contact met je op.

Formulier is aan het laden...

Volgende stap:

Je vraag
Persoonlijke gegevens
Bedrijfsgegevens

Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.

ZEISS scatterControl

Uitzonderlijke CT-beeldkwaliteit

De hardware-oplossing voor geoptimaliseerde beeldkwaliteit

Hoe je van ZEISS scatterControl profiteert

Betere beeldkwaliteit, betere defect-detectie

Verbeterde oppervlak-bepaling

Snel scannen met VAST-modus

Gebruiksvriendelijk

ZEISS scatterControl voor betere defect-analyse

Minder artefacten voor verbeterde CT-beeldkwaliteit

Superieure kwaliteit dankzij module-positionering